高溫介電溫譜儀
產品介紹
本高頻介電溫譜系統主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
二、性能特點
公司****有高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具，可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統。
溫度范圍從室溫至600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備PID控制算法，控溫精度可到士1℃，確保溫度控制不超調。提供7種不同控溫方式，滿足客戶多種測試需求。
高溫介電測試夾具根據國際標準ASTMD150方法，采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電極 具有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數據更加準確可靠。
公司開發的高溫阻抗、介電測量系統軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、TonghuiTH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測量設備連接，實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可根據用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。
軟件可根據實驗方案設計，通過測量C和D值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐富多樣。
技術參數
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技術指標： |
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型號 |
HCJD-801 |
HCJD-802 |
HCJD-803 |
HCJD-804 |
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溫度范圍 |
室溫~600℃ |
室溫~800℃ |
室溫~1000℃ |
室溫~1200℃ |
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溫度精度 |
±1℃ |
±1℃ |
±1℃ |
±1℃ |
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測量精度 |
0.05% |
0.05% |
0.05% |
0.05% |
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升溫速率 |
10℃ |
10℃ |
10℃ |
10℃ |
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控溫方式 |
PID |
PID |
PID |
PID |
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頻率范圍 |
20HZ-30MHZ |
20HZ-30MHZ |
20HZ-30MHZ |
20HZ-30MHZ |
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電極材料 |
鉑金 |
鉑金 |
鉑金 |
鉑金 |
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通道數 |
通道1 |
通道1 |
通道1 |
通道1 |
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測量環境 |
常溫\真空\氣氛 |
常溫\真空\氣氛 |
常溫\真空\氣氛 |
常溫\真空\氣氛 |
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通訊方式 |
USB |
USB |
USB |
USB |
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設備尺寸 |
600×400×650mm |
600×400×650mm |
600×400×650mm |
600×400×650mm |
應用領域
■新型復合絕緣擦亮
■高分子絕緣材料
■無機絕緣材料
■有機絕緣材料
■其它絕緣材料等
功能特點：
測量精度高，智能控溫，測量頻率寬，抗交流干擾；
介電軟件功能強大，擁有測量系統；
直接得出介電常數實部和虛部的比值曲線；
直接得出復阻抗實部和虛部比值曲線的 Cole-Cole圖；
直接得出機械品質因數0m；
集方案、測量、分析、數字化顯示于一體集成化設計；
